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    • Z3000審計最終粒度儀
      審計最終粒度儀:專為復雜體系提供高精度粒度解析方案,工作原理:動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),檢測范圍:0.3nm-10.0μm。
      更新時間:2026-01-23型號:Z3000
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    • A7000 APS大粒子計數器
      大粒子計數器工作原理:單顆粒光學傳感技術(Single Particle Optical Sizing,SPOS),檢測范圍:0.5 μm – 400 μm
      更新時間:2026-01-23型號:A7000 APS
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    • A7000光阻法顆粒計數器
      光阻法顆粒計數器型號:AccuSizer 780 A7000 APS 全自動顆粒計數/粒度分析儀,工作原理:單顆粒光學傳感技術(Single Particle Optical Sizing,SPOS)。
      更新時間:2026-01-23型號:A7000
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    • ZETA電位粒度分析儀
      ZETA電位粒度分析儀:帶相位分析的多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)。
      更新時間:2026-01-23型號:
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    • 高濃度顆粒計數
      高濃度顆粒計數:只需通過鼠標的單擊操作,即能幫助用戶在短時間 內完成從進樣到檢測,完成清洗系統的所有操作,使用戶獲得重要的粒徑分布信息。
      更新時間:2026-01-23型號:
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