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      AccuSizer 780 A7000 APS大乳粒分析儀
      
  
      
        
      
    
    
      大乳粒分析儀工作原理：單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,檢測范圍： 0.5 μm – 400 μm
      
    
      更新時間：2024-08-26型號：AccuSizer 780 A7000 APS
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      PSS光阻法粒度儀
      
  
      
        
      
    
    
      PSS光阻法粒度儀：專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。
      
    
      更新時間：2024-08-26型號：
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      Nicomp Z3000 ZetaZETA電位分析儀
      
  
      
        
      
    
    
      ZETA電位分析儀工作原理：
粒度檢測： 動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）
Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
      
    
      更新時間：2024-08-26型號：Nicomp Z3000 Zeta
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      Nicomp 380 N3000納米激光粒度儀
      
  
      
        
      
    
    
      納米激光粒度儀：專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。
      
    
      更新時間：2024-08-26型號：Nicomp 380 N3000
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      Nicomp Z3000 ZetaZeta電位與粒徑分析儀
      
  
      
        
      
    
    
      專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析
儀器型號：Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀
工作原理：
粒度檢測： 動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）
Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
      
    
      更新時間：2024-08-26型號：Nicomp Z3000 Zeta
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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