zeta電位及粒度分析儀

zeta電位及粒度分析儀簡(jiǎn)介：

在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。

zeta電位及粒度分析儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1、高靈敏度PMT檢測(cè)器；

2、可搭配不同功率光源；

3、準(zhǔn)確度高，接近樣品真實(shí)值；

4、可測(cè)試水相及有機(jī)相樣品的粒度及Zeta電位；

5、快速檢測(cè)，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

6、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

7、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；

8、無(wú)需校準(zhǔn)；

9、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換

（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換

10、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)；

（1）可自動(dòng)稀釋模塊（選配）；

（2）自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；

（3）搭配多角度檢測(cè)器（選配）；

優(yōu)勢(shì)：模塊化設(shè)計(jì)

Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的*進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加，Nicomp 的功能體系越來(lái)越強(qiáng)大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。

選配 21CFR Part 11法規(guī)軟件——符合cGMP要求

Nicomp系列儀器全系配備了符合美國(guó)聯(lián)邦法規(guī)21章第11款（21 CFR PART11）要求的軟件。具有數(shù)據(jù)自動(dòng)備份，審計(jì)追蹤，權(quán)限分級(jí)，電子簽名，可連接Lims系統(tǒng)等多項(xiàng)功能。

中國(guó)食品藥品監(jiān)督管理局（NMPA）有政策趨勢(shì)將對(duì)醫(yī)藥研發(fā)企業(yè)實(shí)施規(guī)范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規(guī)的軟件更能符合現(xiàn)在GLP/GMP的要求。