ZETA電位分析儀

ZETA電位分析儀簡介：

Nicomp Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有*技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優勢。

技術優勢

1、高靈敏度PMT檢測器；

2、可搭配不同功率光源；

3、準確度高，接近樣品真實值；

4、可測試水相及有機相樣品的粒度及Zeta電位；

5、快速檢測，可以追溯歷史數據；

6、結果數據以多種形式和格式呈現；

7、符合USP,CP等個多藥典要求；

8、無需校準；

9、復合型算法：

（1）高斯（Gaussion）正態粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換

（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換

10、模塊化設計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊（選配）；

（2）自動進樣系統（選配）；

（3）搭配多角度檢測器（選配）；

Nicomp多峰分布概念

基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個主要特點，Nicomp創始人Dave Nicole很早就認識到傳統的動態光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產生活中不相符，因為現實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創性的開創了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動態光散射理論的分辨率和靈敏性。

Nicomp多峰分布優勢

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統的DLS系統的結果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現樣品的準確情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優異的算法和高靈敏性的硬件設計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區分1:2的多分散體系。

ZETA電位分析儀優勢：

模塊化設計

Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應用動態光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的*進粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp 的功能體系越來越強大，可以用于各種復雜體系的檢測分析。

選配 21CFR Part 11法規軟件——符合cGMP要求

Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯邦法規21章第11款（21 CFR PART11）要求的軟件。具有數據自動備份，審計追蹤，權限分級，電子簽名，可連接Lims系統等多項功能。

中國食品藥品監督管理局（NMPA）有政策趨勢將對醫藥研發企業實施規范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規的軟件更能符合現在GLP/GMP的要求。